PARSIVAL

PARSIVAL: Parallel High-Throughput Simulations for Efficient Nanoelectronic Design and Test Validation

seit 10.2014, DFG-Project: WU 245/16-1

Projektbeschreibung

Eine detaillierte Projektbeschreibung finden Sie auf unserer englischen Seite.

 

ZUR ENGLISCHEN SEITE

Publikationen

  1. 2019

    1. Multi-Level Timing and Fault Simulation on GPUs. Eric Schneider and Hans-Joachim Wunderlich. INTEGRATION, the VLSI Journal -- Special Issue of ASP-DAC 2018 64, (January 2019), pp. 78--91. DOI: https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.08.005
    2. Multi-Level Timing and Fault Simulation on GPUs. Eric Schneider and Hans-Joachim Wunderlich. INTEGRATION, the VLSI Journal -- Special Issue of ASP-DAC 2018 64, (January 2019), pp. 78--91. DOI: https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.08.005
  2. 2017

    1. Probabilistic Sensitization Analysis for Variation-Aware Path Delay Fault Test Evaluation. Marcus Wagner and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 22nd IEEE European Test Symposium (ETS’17), Limassol, Cyprus, 2017, pp. 1--6. DOI: https://doi.org/10.1109/ETS.2017.7968226
    2. Probabilistic Sensitization Analysis for Variation-Aware Path Delay Fault Test Evaluation. Marcus Wagner and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 22nd IEEE European Test Symposium (ETS’17), Limassol, Cyprus, 2017, pp. 1--6. DOI: https://doi.org/10.1109/ETS.2017.7968226
  3. 2016

    1. High-Throughput Transistor-Level Fault Simulation on GPUs. Eric Schneider and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS’16), Hiroshima, Japan, 2016, pp. 150--155. DOI: https://doi.org/10.1109/ATS.2016.9
    2. High-Throughput Transistor-Level Fault Simulation on GPUs. Eric Schneider and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS’16), Hiroshima, Japan, 2016, pp. 150--155. DOI: https://doi.org/10.1109/ATS.2016.9
  4. 2015

    1. Hochbeschleunigte Simulation von Verzögerungsfehlern unter Prozessvariationen. Eric Schneider; Michael A. Kochte and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
    2. High-Throughput Logic Timing Simulation on GPGPUs. Stefan Holst; Michael E. Imhof and Hans-Joachim Wunderlich. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES) 20, 3 (June 2015), pp. 37:1--37:21. DOI: https://doi.org/10.1145/2714564
    3. GPU-Accelerated Small Delay Fault Simulation. Eric Schneider; Stefan Holst; Michael A. Kochte; Xiaoqing Wen and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the ACM/IEEE Conference onDesign, Automation and Test in Europe (DATE’15), Grenoble, France, 2015, pp. 1174--1179. DOI: https://doi.org/10.7873/DATE.2015.0077
    4. Hochbeschleunigte Simulation von Verzögerungsfehlern unter Prozessvariationen. Eric Schneider; Michael A. Kochte and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
    5. GPU-Accelerated Small Delay Fault Simulation. Eric Schneider; Stefan Holst; Michael A. Kochte; Xiaoqing Wen and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the ACM/IEEE Conference onDesign, Automation and Test in Europe (DATE’15), Grenoble, France, 2015, pp. 1174--1179. DOI: https://doi.org/10.7873/DATE.2015.0077
    6. High-Throughput Logic Timing Simulation on GPGPUs. Stefan Holst; Michael E. Imhof and Hans-Joachim Wunderlich. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES) 20, 3 (June 2015), pp. 37:1--37:21. DOI: https://doi.org/10.1145/2714564
  5. 2014

    1. Data-Parallel Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits. Eric Schneider; Stefan Holst; Xiaoqing Wen and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 33rd IEEE/ACM International Conferenceon Computer-Aided Design (ICCAD’14), San Jose, California, USA, 2014, pp. 17--23. DOI: https://doi.org/10.1109/ICCAD.2014.7001324
    2. Data-Parallel Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits. Eric Schneider; Stefan Holst; Xiaoqing Wen and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 33rd IEEE/ACM International Conferenceon Computer-Aided Design (ICCAD’14), San Jose, California, USA, 2014, pp. 17--23. DOI: https://doi.org/10.1109/ICCAD.2014.7001324

Workshopbeiträge

  1. 2015

    1. Hochbeschleunigte Simulation von Verzögerungsfehlern unter Prozessvariationen. Eric Schneider; Michael A. Kochte and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
    2. Hochbeschleunigte Simulation von Verzögerungsfehlern unter Prozessvariationen. Eric Schneider; Michael A. Kochte and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.

Kontakt

 

 

Dieses Bild zeigt Hans-Joachim Wunderlich

Hans-Joachim Wunderlich

Prof. Dr. rer. nat. habil.

Forschungsgruppe Rechnerarchitektur,
im Ruhestand

Zum Seitenanfang