OASIS

OASIS: Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen

Mikroelektronische Schaltungen sind, wie auch mechanische Komponenten, lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt. Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit und die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen. Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen und Alterungsindikatoren in einer Infrastruktur analysiert, so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt werden kann. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können. Die effektive Lebensdauer eines mikroelektronischen Produkts kann mit Hilfe eines derartigen Online-Monitorings auf ein Vielfaches erhöht werden.

03.2011 - 12.2014, DFG-Projekt: WU 245/11-1

Publikationen

  1. 2015

    1. Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler. Sybille Hellebrand; Thomas Indlekofer; Matthias Kampmann; Michael A. Kochte; Chang Liu and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
    2. Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler. Sybille Hellebrand; Thomas Indlekofer; Matthias Kampmann; Michael A. Kochte; Chang Liu and Hans-Joachim Wunderlich. In 27th GI/GMM/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
  2. 2014

    1. FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects. Sybille Hellebrand; Thomas Indlekofer; Matthias Kampmann; Michael A. Kochte; Chang Liu and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the  IEEE International Test Conference (ITC’14), Seattle, Washington, USA, 2014, pp. 1--8. DOI: https://doi.org/10.1109/TEST.2014.7035360
    2. Multi-Level Simulation of Non-Functional Properties by Piecewise Evaluation. Nadereh Hatami; Rafal Baranowski; Paolo Prinetto and Hans-Joachim Wunderlich. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES) 19, 4 (2014), pp. 37:1--37:21. DOI: https://doi.org/10.1145/2647955
    3. FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects. Sybille Hellebrand; Thomas Indlekofer; Matthias Kampmann; Michael A. Kochte; Chang Liu and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the  IEEE International Test Conference (ITC’14), Seattle, Washington, USA, 2014, pp. 1--8. DOI: https://doi.org/10.1109/TEST.2014.7035360
    4. Multi-Level Simulation of Non-Functional Properties by Piecewise Evaluation. Nadereh Hatami; Rafal Baranowski; Paolo Prinetto and Hans-Joachim Wunderlich. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES) 19, 4 (2014), pp. 37:1--37:21. DOI: https://doi.org/10.1145/2647955
  3. 2013

    1. Accurate Multi-Cycle ATPG in Presence of X-Values. Dominik Erb; Michael A. Kochte; Matthias Sauer; Hans-Joachim Wunderlich and Bernd Becker. In Proceedings of the 22nd IEEE Asian Test Symposium (ATS’13), Yilan, Taiwan, 2013. DOI: https://doi.org/10.1109/ATS.2013.53
    2. Accurate Multi-Cycle ATPG in Presence of X-Values. Dominik Erb; Michael A. Kochte; Matthias Sauer; Hans-Joachim Wunderlich and Bernd Becker. In Proceedings of the 22nd IEEE Asian Test Symposium (ATS’13), Yilan, Taiwan, 2013. DOI: https://doi.org/10.1109/ATS.2013.53
  4. 2012

    1. Efficient System-Level Aging Prediction. Nadereh Hatami; Rafal Baranowski; Paolo Prinetto and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 17th IEEE European Test Symposium (ETS’12), Annecy, France, 2012, pp. 164--169. DOI: https://doi.org/10.1109/ETS.2012.6233028
    2. Efficient System-Level Aging Prediction. Nadereh Hatami; Rafal Baranowski; Paolo Prinetto and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 17th IEEE European Test Symposium (ETS’12), Annecy, France, 2012, pp. 164--169. DOI: https://doi.org/10.1109/ETS.2012.6233028
Hans-Joachim Wunderlich (i.R.)
Prof. Dr. rer. nat. habil.

Hans-Joachim Wunderlich (i.R.)

Leitung der Forschungsgruppe Rechnerarchitektur

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