RM-BIST

RM-BIST: Reliability Monitoring and Managing Built-In Self Test

Das Hauptziel des RM-BIST Projekts ist es, die Test-Infrastruktur (Design for Test, DFT), die primär für den Produktionstest verwendet wird, zur Zuverlässigkeitsinfrastruktur (Design for Reliability, DFR) zu erweitern. Existierende Infrastruktur für den eingebetteten Selbsttest (Built-In Self-Test, BIST) wird durch geeignete Anpassungen während der Lebenszeit eines VLSI Systems wiederverwendet, um eine Systemüberwachung, die Identifikation kritischer Systemzustände und eine Vorhersage der Zuverlässigkeit zu ermöglichen. Zusätzlich wird die modifizierte Infrastruktur genutzt, um die Zuverlässigkeit gezielt zu steigern. Der zu entwickelnde Ansatz soll Fehler identifizieren und überwachen, welche die Systemzuverlässigkeit in verschiedenen Zeitskalen beeinflussen. Durch Prognostizierung sollen diese Fehler gleichzeitig abgemildert werden. Es werden unterschiedliche zuverlässigkeitsreduzierende Effekte behandelt, wie strahlungsinduzierte Soft Errors, intermittierende Fehler aufgrund von Prozess- und Laufzeitvariationen, Alterung von Transistoren und Elektromigration. Es ist das Ziel, eine Laufzeitunterstützung für die Überwachung und Steigerung der Zuverlässigkeit mittels Modifikation und Wiederverwendung existierender Infrastruktur für den eingebetteten Selbsttest unter minimalen Kosten bereitzustellen.

07.2012 - 06.2015, DFG-Projekt: WU 245/13-1

Projektbeschreibung

Eine detaillierte Projektbeschreibung finden Sie auf unserer englischen Seite.

 

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Dieses Bild zeigt Wunderlich (i.R.)
Prof. Dr. rer. nat. habil.

Hans-Joachim Wunderlich (i.R.)

Leitung der Forschungsgruppe Rechnerarchitektur

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