Dieses Bild zeigt  Zahra Paria Najafi Haghi

M.Sc.

Zahra Paria Najafi Haghi

Wissenschaftliche Mitarbeiterin
Institut für Technische Informatik
Rechnerarchitektur

Kontakt

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D-70569 Stuttgart
Deutschland
Raum: 2.171

  1. 2021

    1. Resistive Open Defect Classification of Embedded Cells under Variations. Zahra Paria Najafi-Haghi and Hans-Joachim Wunderlich. In To appear in Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS’21), Virtual, 2021, pp. 1--6.
    2. Testability-Enhancing Resynthesis of Reconfigurable Scan Networks. Zahra Paria Najafi-Haghi and Hans-Joachim Wunderlich. In To appear in Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS’21), Virtual, 2021, pp. 1--6.
  2. 2020

    1. Variation-Aware Defect Characterization at Cell Level. Zahra Najafi Haghi; Marzieh Hashemipour Nazari and Hans-Joachim Wunderlich. In Proceedings of the 25th IEEE European Test Symposium (ETS’20), Tallinn, Estonia, 2020, pp. 1--6. DOI: https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131600
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