Alejandro Cook
Name: | M.Sc. Alejandro Cook |
Addresse: | Universität Stuttgart Institut für Technische Informatik Pfaffenwaldring 47 D-70569 Stuttgart Germany |
Raum: | 3.172 |
Telefon: | (+49) (0)711 / 685 88 290 |
Telefax: | (+49) (0)711 / 685 88 288 |
E-Mail: |
Laufende Projekte
Diana: BMBF Projekt: Durchgängige Diagnosefähigkeit für Elektroniksysteme im Automobil
Projektseite: BMBF Projekt: Durchgängige Diagnosefähigkeit für Elektroniksysteme im Automobil Gemeinsam werden AUDI AG, Continental AG, Infineon Technologies AG und ZMD AG erforschen, wie sich die Analyse- und Diagnosefähigkeiten von elektronischen Steuergeräten im Fahrzeug verbessern lassen. Unter der Leitung von Infineon arbeiten die vier Partner bis 2013 daran, wie eine gezielte Fehlererkennung und damit schnellere Fehlerbehebung beim Automobilhersteller bzw. in der Werkstatt möglich sind. DIANA steht für "Durchgängige Diagnosefähigkeit in Halbleiterbauelementen und übergeordneten Systemen zur Analyse von permanenten und sporadischen Fehlern im Gesamtsystem Automobil". Die Projektpartner werden dabei von zahlreichen Forschungseinrichtungen und Universitäten unterstützt: dem Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen Dresden, der Universität der Bundeswehr München und den Universitäten Cottbus, Erlangen-Nürnberg und Stuttgart. | |
|
Publikationen
Journals / Konferenzen
- Built-in Self-Diagnosis Exploiting Strong Diagnostic Windows in Mixed-Mode Test
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich
to appear in Proc. 16th IEEE European Test Symposium (ETS12) - Built-in Self-Diagnosis Targeting Arbitrary Defects with Partial Pseudo-Exhaustive Test
A. Cook, S. Hellebrand, M.E. Imhof, A. Mumtaz, H.-J. Wunderlich
to appear in Proc. 13th IEEE Latin-American Test Workshop (LATW12)
- Diagnostic Test of Robust Circuits
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich
IEEE 20th Asian Test Symposium (ATS11), New Delhi, India, November 21-23, 2011
- Robuster Selbsttest mit Diagnose
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich
5. GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (ZuE'11), Hamburg-Harburg, Germany, September 27-29, 2011, pp. 43-47
- Structural In-Field Diagnosis for Random Logic Circuits
A. Cook, M. Elm, H.-J. Wunderlich, U. Abelein
16th IEEE European Test Symposium (ETS), Trondheim, Norway, May 23-27, 2011
Workshops etc.
- Structural In-Field Diagnosis for Random Logic Circuits
A. Cook, M. Elm, H.-J. Wunderlich, U. Abelein
23. GI/GMM/ITG Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TUZ), Passau, Germany, February 27 - March 1, 2011
Lehre
Master- / Diplom- / Studienarbeiten und Software Praktika
Laufende Themen
- Strukturelle Feldtests bei komplexen ASICs
Diplomarbeit: Dominik Ull