Alejandro Cook
Name: | M.Sc. Alejandro Cook |
Addresse: | Universität Stuttgart Institut für Technische Informatik Pfaffenwaldring 47 D-70569 Stuttgart Germany |
Raum: | 3.172 |
Telefon: | (+49) (0)711 / 685 88 290 |
Telefax: | (+49) (0)711 / 685 88 288 |
E-Mail: |
Laufende Projekte
Diana: BMBF Projekt: Durchgängige Diagnosefähigkeit für Elektroniksysteme im Automobil
Projektseite: BMBF Projekt: Durchgängige Diagnosefähigkeit für Elektroniksysteme im Automobil Gemeinsam werden AUDI AG, Continental AG, Infineon Technologies AG und ZMD AG erforschen, wie sich die Analyse- und Diagnosefähigkeiten von elektronischen Steuergeräten im Fahrzeug verbessern lassen. Unter der Leitung von Infineon arbeiten die vier Partner bis 2013 daran, wie eine gezielte Fehlererkennung und damit schnellere Fehlerbehebung beim Automobilhersteller bzw. in der Werkstatt möglich sind. DIANA steht für "Durchgängige Diagnosefähigkeit in Halbleiterbauelementen und übergeordneten Systemen zur Analyse von permanenten und sporadischen Fehlern im Gesamtsystem Automobil". Die Projektpartner werden dabei von zahlreichen Forschungseinrichtungen und Universitäten unterstützt: dem Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen Dresden, der Universität der Bundeswehr München und den Universitäten Cottbus, Erlangen-Nürnberg und Stuttgart. | |
seit 07.2010, BMBF-Projekt |
Publikationen
Journals / Konferenzen
- Reuse of Structural Volume Test Methods for In-System Testing of Automotive ASICs
A. Cook, D. Ull, M. Elm, H.-J. Wunderlich, H. Randoll, S. Döhren
to appear in Proc IEEE 21th Asian Test Symposium (ATS12), Niigata, Japan, November 19-22, 2012
- Built-in Self-Diagnosis Exploiting Strong Diagnostic Windows in Mixed-Mode Test
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich
Proc. 17th IEEE European Test Symposium (ETS12), Annecy, France, May 28-June 01, 2012, pp. 146-151 - Built-in Self-Diagnosis Targeting Arbitrary Defects with Partial Pseudo-Exhaustive Test
A. Cook, S. Hellebrand, M.E. Imhof, A. Mumtaz, H.-J. Wunderlich
Proc. 13th IEEE Latin-American Test Workshop (LATW12), Quito, Ecuador, April 10-13, 2012, pp.1-4
- Diagnostic Test of Robust Circuits
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich
Proc. IEEE 20th Asian Test Symposium (ATS11), New Delhi, India, November 21-23, 2011, pp. 285-290
- Robuster Selbsttest mit Diagnose
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich
5. GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (ZuE'11), Hamburg-Harburg, Germany, September 27-29, 2011, pp. 43-47
- Structural In-Field Diagnosis for Random Logic Circuits
A. Cook, M. Elm, H.-J. Wunderlich, U. Abelein
Proc 16th IEEE European Test Symposium (ETS), Trondheim, Norway, May 23-27, 2011
Workshops etc.
- Structural In-Field Diagnosis for Random Logic Circuits
A. Cook, M. Elm, H.-J. Wunderlich, U. Abelein
23. GI/GMM/ITG Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TUZ), Passau, Germany, February 27 - March 1, 2011
Lehre
Master- / Diplom- / Studienarbeiten und Software Praktika
Laufende Themen
- Modeling of Design-for-test infrastructure in complex Systems-on-chips
- Strukturelle Feldtests bei komplexen ASICs
Diplomarbeit: Dominik Ull